信頼性試験

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  • 熱サイクル試験

    試料に対して高温・低温を交互に繰返し、温度変化率を15℃/分以下で与える事により、
    より適切な信頼性を評価する試験です。
    弊社では、試料の抵抗値をモニターする事で、低温・高温での試料状態の変化を観察する事が可能です。

    恒温恒湿試験/恒温恒湿バイアス試験

    試料が恒温・恒湿条件下にさらされた場合の耐湿性を評価する試験です。
    恒温恒湿バイアス試験は、恒温・恒湿条件下で試料に電圧を印加し、絶縁性を評価する試験です。

    高温試験

    電子部品等の高温条件下における耐熱性・材料劣化を評価する試験です。

    熱衝撃試験(ホットオイル試験)

    電子基板を高温・常温のオイル槽へ交互に繰返し浸す事により、
    気相式の熱衝撃試験よりも短時間でスルーホールやビア等、試験前後の導通抵抗を評価する試験です。
    又、試験中の導通抵抗モニタリング試験も可能です。

    高度加速寿命試験(HAST)

    100℃を超える高温及び高湿環境に圧力をかけることで、
    試料内部へ水分の行き渡る速度を早め、試料の信頼性を評価する試験です。
    試料にバイアスをかけることにより、THB(恒温恒湿バイアス試験)を短期間で試験することが可能です。

    試験使用機器

    信頼性試験と組み合わせて使用することで、より信頼度の高い試験を行うことができます。